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2021-01-29
鐵電存儲器的基本存儲單元一般有兩結構,分別為1T1C(Onetransistoronecapacitance)結構和2T2C(Twotransistortwocapacitance)結構,如圖2-3所示。前者使用一個晶體管及一個鐵電電容組成一個存儲單元,而后者則各為兩個。1T1C結構的優點是能夠大的節省存儲單元所占芯片面積,但是該結構會導致陣列中位線(BitLine)的電壓差變低,讀出時對靈敏放大器的要求會更高;2T2C結構雖然會使用更大的面積,但是由于每個存儲單元都含有兩個...2021-01-26
早在20世紀40年代就提出,因為晶體各向異性能和相鄰自旋磁矩的耦合作用,磁性材料中可能存在不同的磁疇結構。當晶體各向異性能量占主導地位時,平凡的磁疇壁(圖1(a))會形成全通量閉合結構(圖1(b)),而當相鄰磁矩之間的耦合作用超過各向異性能時,可能出現渦旋或反渦旋狀結構,如圖1(c)和圖1(d)。Mermin將這類特殊疇結構定義為拓撲缺陷,即序參數停止連續變化且具有低維奇異性的區域。一般來講,鐵磁疇壁可歸類為二維平凡的拓撲缺陷,而更為復雜的通量閉合型、渦旋、反渦旋、中心疇、磁...2021-01-26
動態熱機械法是在程序控制溫度下,測量物質在振動負荷下的動態模量和阻尼與溫度關系的一種技術。DMA可用于測量材料變形時所存儲和消耗的機械能。例如如果一個材料收到變形并且接著解除變形,那么一部分貯存的變形能要回復,這是材料的基本特性,即材料產生阻尼振動。對于理想的彈性體,振動的能量是與變形時加入的能量相等的。而大多數材料并不顯示出理想的彈性特性,所顯示出的是一種黏彈特性。其一部分變形能是以其他形式能量(如熱能)消耗的,這種能量消耗的趨向越大,由變形引起的振動阻尼也越大。在DMA測...2021-01-26
高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟件四個組成部分。測試應用范圍高溫四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合...2021-01-25
隨著科學技術的迅速發展以及對新材料的物理和化學性能研究的迫切需要,熱分析方法取得了很快的進展,已相繼研制出測量物質各種性質的熱分析方法,包括熱機械分析(TMA)、動態熱機械法(DMA)、逸出氣體分析(EGA)、熱光學法、熱發聲法、放射熱分析和熱逸出水分分析等。這里簡要介紹熱機械分析法。許多無機、有機和高分子材料的性能往往與它們的熱(或力學)歷史密切相關。雖然這些材料的形成和加工處理時的熱性質可用DTA和DSC進行研究,但是這兩種方法在檢測極為微小的熱變化時還不夠靈敏。在這種情...